X射线荧光光谱仪EDX600

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性能特点

专业贵金属检测、镀层厚度检测。

智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序。

技术指标

元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。

测量对象：固体、液体、粉末

分析检出限可达：1ppm。

分析含量一般为：1ppm到99.9％。

多次测量重复性可达：0.1％。

长期工作稳定性为：0.1％。

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